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      日本精工 X射線熒光鍍層厚度測量儀 A1532022 可測量元素原子序數13(Al)~83(Bi)X射線聚光聚光方式X射線源管電壓50kV管電流1mA檢測器Vortex®檢測器(無需液氮)分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm樣品觀… 洽詢 洽詢
      日本精工 X射線熒光鍍層厚度測量儀 A1532023 測定元素原子序號22(Ti)~83(Bi)X射線管管電壓:50kV管電流:1.5mA檢測器半導體檢測器+比例計數管準直器4種(0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ)樣品… 洽詢 洽詢
      日本精工 X射線熒光鍍層厚度測量儀 A1532024 射線源空冷式小型X射線管準直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ樣品表示倍率(CRT上)最大4倍可變焦距樣品平臺移動量:220(… 洽詢 洽詢
      日本精工 X射線熒光鍍層厚度測量儀 A1532025 射線源空冷式小型X射線管準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ樣品觀察CCD照相機過濾器Co:自動切換樣品平臺移動量:220(X)x150… 洽詢 洽詢
      日本精工 X射線熒光鍍層厚度測量儀 A1532026 射線源空冷式小型X射線管準直器2種類型0.1、0.2mmφ計算機CPU(AT互換電腦)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®過濾裝置數字過濾裝置樣品平臺臺面尺… 洽詢 洽詢
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